涂層測厚儀小百科    

   涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

    用戶可以根據(jù)測量的需要選用不同的測厚儀，磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米，這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷，后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測厚儀來測，測量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細(xì)的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

兩用型

    儀器由德國生產(chǎn)，集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：

* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

* 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。

* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。

* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。

儀器符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

儀器特點(diǎn)

* 采用雙功能內(nèi)置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應(yīng)的測量方式進(jìn)行測量。

* 符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。

* 采用手機(jī)菜單式功能選擇方式，操作十分簡便。

* 可設(shè)定上下限值，測量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí)，儀器會發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。

* 穩(wěn)定性*，通常不必校正便可長期使用。

技術(shù)規(guī)格

量 程： 0～2000μm ,

電 源： 兩節(jié)5號電池

標(biāo)準(zhǔn)配置

常規(guī)型

    對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。

覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

    X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。

    隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。

采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。

影響因素

a 基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b 基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d 邊緣效應(yīng)

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

e 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f 試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

g 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

g 磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

h 附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

i 測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

j 測頭的取向

測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

    無損檢測之涂鍍層測厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測工件的，還有就是來自自然環(huán)境的影響，滄州歐譜下面我們介紹一下排除這些故障的方法。

示值顯示不穩(wěn)定

    導(dǎo)致涂鍍測厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍層測厚儀，還有工件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不溫度的原因，工件表面粗糙度過大、表面附著物太多。排除故障的要點(diǎn)就是要將粗糙度比較大的工件打磨平整，出去附著物即可，再有就是選擇適合的涂鍍層測厚儀。

測量結(jié)果誤差太多

    引起涂鍍層測厚儀測量誤差大的原因我們在以前的文章中已經(jīng)介紹很清楚了，這里我們在簡單介紹一下引起測量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾探頭的放置方法等，新來的朋友可以參考儀器的文章熟悉一下我們就不一一做介紹了。

不顯示數(shù)字

    造成涂鍍層測厚儀不顯示數(shù)字的zui簡單原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測量還是不顯示數(shù)值。

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